一种芯片离线测试和测试治具自检的测试设备及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411789399.6

申请日：

2024-12-06

公开(公告)号：

CN119511043A

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

文根发金鹏

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391

代理人：

赵云秀

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241206
2025-02-25	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备 [P].

文根发 ;

金鹏 .

中国专利 :CN118980913A ,2024-11-19

[2]

一种芯片测试设备及测试方法 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN121027144A ,2025-11-28

[3]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[4]

测试治具和测试设备 [P].

何正鸿 ;

陈泽 .

中国专利 :CN221631457U ,2024-08-30

[5]

测试治具和测试设备 [P].

张建龙 ;

何虎象 ;

陈超 ;

罗居勇 ;

刘玉 ;

马化沭 ;

余骏东 .

中国专利 :CN220381789U ,2024-01-23

[6]

芯片测试治具 [P].

何正鸿 ;

陶毅 ;

陈泽 ;

宋祥祎 .

中国专利 :CN220709213U ,2024-04-02

[7]

一种芯片测试治具 [P].

段源鸿 ;

杨天应 .

中国专利 :CN214845639U ,2021-11-23

[8]

测试方法、测试设备和测试治具 [P].

沈腾芳 ;

王新勇 ;

王飞 ;

何华军 ;

郭培林 .

中国专利 :CN109597000A ,2019-04-09

[9]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[10]

一种探针测试模组及芯片测试治具 [P].

朱亚鹏 .

中国专利 :CN215340180U ,2021-12-28

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