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一种电芯平面厚度测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202321900701.1
申请日：
2023-07-19
公开(公告)号：
CN220602482U
公开(公告)日：
2024-03-15
发明(设计)人：
吉晓荣
申请人：
上海天贺测控技术有限公司
申请人地址：
200435 上海市宝山区罗宁路1288弄25号楼A202室
IPC主分类号：
G01B21/08
IPC分类号：
B25B11/00
代理机构：
上海政济知识产权代理事务所(普通合伙) 31479
代理人：
罗子芳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-03-15 | 授权 | 授权 |