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控制测量装置的方法、测量装置以及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410177393.7
申请日：
2024-02-08
公开(公告)号：
CN117990159A
公开(公告)日：
2024-05-07
发明(设计)人：
M·布鲁纳 托马斯·登纳 T·希尔帕特 F·沃尔法特 迈克尔·舒耐克 迈克尔·穆勒 托尔斯滕·哈赫曼
申请人：
耐驰仪器制造有限公司
申请人地址：
德国塞尔布
IPC主分类号：
G01D21/02
IPC分类号：
代理机构：
北京毕科锐森知识产权代理事务所(普通合伙) 11877
代理人：
王静;王家毅
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-05-07 公开 公开
2024-05-24 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01D 21/02申请日:20240208
共 50 条
[1]
测量装置及其控制方法、管理装置及其控制方法、以及测量系统 [P]. 
村田卓也 ;
井浦慎一郎 ;
川上悟郎 ;
掛谷旭广 ;
冈田直树 ;
内藤慎次 .
中国专利 :CN106796752A ,2017-05-31
[2]
测量装置、测量系统、测量方法以及程序 [P]. 
水野诚一 .
中国专利 :CN110192229A ,2019-08-30
[3]
电力消耗测量系统、插座装置、控制装置、测量装置以及电力消耗测量方法 [P]. 
木内一也 ;
草深薰 ;
渡边忠之 ;
七里一正 ;
岩渕显德 .
中国专利 :CN102597788A ,2012-07-18
[4]
裂缝测量装置、裂缝测量装置的控制方法和裂缝测量系统 [P]. 
迟国铭 ;
王巍 ;
周海丰 ;
陈苏社 ;
陈建华 ;
范东林 ;
冯志忠 ;
都伟冰 ;
张文志 .
中国专利 :CN118209051A ,2024-06-18
[5]
控制测量装置的方法和测量装置 [P]. 
M·布鲁纳 ;
托马斯·登纳 ;
T·希尔帕特 ;
F·沃尔法特 ;
迈克尔·舒耐克 ;
迈克尔·穆勒 ;
托尔斯滕·哈赫曼 .
德国专利 :CN118209156A ,2024-06-18
[6]
控制测量装置的方法和测量装置 [P]. 
M·布鲁纳 ;
托马斯·登纳 ;
T·希尔帕特 ;
F·沃尔法特 ;
迈克尔·舒耐克 ;
迈克尔·穆勒 ;
托尔斯滕·哈赫曼 .
德国专利 :CN118129832A ,2024-06-04
[7]
测量装置、测量系统以及测量方法 [P]. 
渡边义浩 ;
石川正俊 ;
加地宏乃介 .
日本专利 :CN112771367B ,2025-02-11
[8]
测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法 [P]. 
壶井修 ;
丑込道雄 ;
百濑悟 .
中国专利 :CN106574888B ,2017-04-19
[9]
测量装置和应用该测量装置的测量系统 [P]. 
孙宗远 ;
张平 ;
肖大华 .
中国专利 :CN104422388A ,2015-03-18
[10]
测量装置以及测量方法 [P]. 
井上胜 ;
本间彰 .
中国专利 :CN1854681B ,2006-11-01
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