应用于柱体内表面的缺陷检测方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410575400.9

申请日：

2024-05-10

公开(公告)号：

CN118130501A

公开(公告)日：

2024-06-04

发明(设计)人：

王品严之强袁海山赖文峰郭东贵何英倪麒

申请人：

深圳玩智商科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷七栋A座1602房

IPC主分类号：

G01N21/954

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京惟盛达知识产权代理有限公司 11855

代理人：

陈钊

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-26	授权	授权
2024-06-04	公开	公开
2024-06-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/954申请日:20240510

共 50 条

[1]

应用于柱体内表面的缺陷检测方法及装置 [P].

王品 ;

严之强 ;

袁海山 ;

赖文峰 ;

郭东贵 ;

何英 ;

倪麒 .

中国专利 :CN118130501B ,2024-07-26

[2]

表面缺陷检测方法及表面缺陷检测系统 [P].

曹文 ;

龙攀城 ;

丁玲玲 ;

付翱 .

中国专利 :CN115575399A ,2023-01-06

[3]

应用于内壁表面的缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

路圣汉 ;

储智睿 ;

王云峰 ;

苑高龙 .

中国专利 :CN119168966A ,2024-12-20

[4]

应用于内壁表面的缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

路圣汉 ;

储智睿 ;

王云峰 ;

苑高龙 .

中国专利 :CN119168966B ,2025-07-29

[5]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[6]

产品表面的缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

李林峰 ;

陈浪 ;

何志豪 .

中国专利 :CN120472217A ,2025-08-12

[7]

反光表面的缺陷检测方法及装置 [P].

周正 .

中国专利 :CN113570549A ,2021-10-29

[8]

应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置 [P].

董会 .

中国专利 :CN109827759B ,2019-05-31

[9]

应用于车辆底盘的缺陷检测方法及装置 [P].

徐梦飞 .

中国专利 :CN119887653A ,2025-04-25

[10]

一种应用于陶瓷砖表面的缺陷检测方法及其系统 [P].

罗芳 ;

刘英 ;

李铭 ;

张伟雄 ;

张志亮 ;

孙姿娇 ;

朱欣娜 .

中国专利 :CN120931566A ,2025-11-11

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