应用于内壁表面的缺陷检测方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411210258.4

申请日：

2024-08-30

公开(公告)号：

CN119168966B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

路圣汉储智睿王云峰苑高龙

申请人：

北京汉勃科技有限公司

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路6号院10号楼1至14层101内8层801室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

代理机构：

北京唯智勤实知识产权代理事务所(普通合伙) 11557

代理人：

孙姣

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240830
2025-07-29	授权	授权
2024-12-20	公开	公开

共 50 条

[1]

应用于内壁表面的缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

路圣汉 ;

储智睿 ;

王云峰 ;

苑高龙 .

中国专利 :CN119168966A ,2024-12-20

[2]

金属件表面的缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈先开 ;

刘文星 ;

张坤 ;

管玉胜 ;

戴朝阳 ;

邹祥 .

中国专利 :CN121095217A ,2025-12-09

[3]

应用于柱体内表面的缺陷检测方法及装置 [P].

王品 ;

严之强 ;

袁海山 ;

赖文峰 ;

郭东贵 ;

何英 ;

倪麒 .

中国专利 :CN118130501B ,2024-07-26

[4]

应用于柱体内表面的缺陷检测方法及装置 [P].

王品 ;

严之强 ;

袁海山 ;

赖文峰 ;

郭东贵 ;

何英 ;

倪麒 .

中国专利 :CN118130501A ,2024-06-04

[5]

缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

杨建乔 .

中国专利 :CN119887707A ,2025-04-25

[6]

缺陷检测方法、装置和电子设备 [P].

曹聪聪 ;

马领玉 ;

张伟 ;

赵银峰 ;

王胜 .

中国专利 :CN119540202A ,2025-02-28

[7]

缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

陈诗伟 ;

孙新 .

中国专利 :CN117853425A ,2024-04-09

[8]

应用于增材制造的缺陷检测方法、装置及电子设备 [P].

余旭东 ;

卢敬远 ;

沈海 ;

李岩锴 ;

罗霆宇 .

中国专利 :CN119534631A ,2025-02-28

[9]

缺陷检测模型训练方法及装置、缺陷检测方法和电子设备 [P].

洪恺临 ;

丁有爽 ;

邵天兰 .

中国专利 :CN116883790B ,2025-12-26

[10]

缺陷检测模型训练方法及装置、缺陷检测方法和电子设备 [P].

洪恺临 ;

丁有爽 ;

邵天兰 .

中国专利 :CN116862903B ,2024-06-25

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