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一种基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311554946.8
申请日：
2023-11-21
公开(公告)号：
CN117763457B
公开(公告)日：
2024-05-17
发明(设计)人：
袁永斌
申请人：
上海源斌电子科技有限公司
申请人地址：
201100 上海市闵行区申南路515号1幢501A
IPC主分类号：
G06F18/2431
IPC分类号：
G06F18/22
G06N5/022
代理机构：
上海昱泽专利代理事务所(普通合伙) 31341
代理人：
孟波
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
上海市
市辖区
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-12 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 18/2431申请日:20231121 |
| 2024-03-26 | 公开 | 公开 |
| 2024-05-17 | 授权 | 授权 |