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基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510246285.5
申请日：
2025-03-04
公开(公告)号：
CN120214550A
公开(公告)日：
2025-06-27
发明(设计)人：
袁永斌
申请人：
木弓达芯（无锡）科技有限公司
申请人地址：
214029 江苏省无锡市无锡经济开发区华庄街道高浪东路999号8-A2-910
IPC主分类号：
G01R31/3185
IPC分类号：
G01R31/317 G06F18/22 G06F123/02
代理机构：
上海昱泽专利代理事务所(普通合伙) 31341
代理人：
孟波
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-27 公开 公开
2025-07-15 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3185申请日:20250304
共 50 条
[1]
一种基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法 [P]. 
袁永斌 .
中国专利 :CN117763457A ,2024-03-26
[2]
一种基于大数据分析的芯片测试数据管理系统及方法 [P]. 
袁永斌 .
中国专利 :CN117763457B ,2024-05-17
[3]
一种基于大数据的电控测试数据管理系统及方法 [P]. 
吴春明 ;
陈兰芳 .
中国专利 :CN117193272B ,2024-01-26
[4]
一种基于大数据分析的多媒体数据管理系统 [P]. 
向吉喆 .
中国专利 :CN116471425B ,2024-02-06
[5]
一种基于大数据分析的数据管理平台及访问方法 [P]. 
刘亭君 ;
王艺琳 .
中国专利 :CN114238478A ,2022-03-25
[6]
基于大数据和人工智能的软件测试数据管理系统及方法 [P]. 
曾炽强 ;
曾灶烟 ;
李树湖 ;
叶婷 ;
曾幸钦 ;
叶海萍 ;
刘惠玲 ;
朱艳青 ;
董碧飞 .
中国专利 :CN118331874A ,2024-07-12
[7]
基于大数据和人工智能的软件测试数据管理系统及方法 [P]. 
曾炽强 ;
曾灶烟 ;
李树湖 ;
叶婷 ;
曾幸钦 ;
叶海萍 ;
刘惠玲 ;
朱艳青 ;
董碧飞 .
中国专利 :CN118331874B ,2025-02-14
[8]
基于大数据分析的芯片测试优化系统和方法 [P]. 
李振昆 ;
李豪 ;
付豪 .
中国专利 :CN120850919A ,2025-10-28
[9]
测试数据管理系统 [P]. 
陈凯华 ;
谢晋春 ;
陈婷 ;
桑浚之 ;
辛吉升 .
中国专利 :CN100501721C ,2008-04-02
[10]
一种基于大数据分析的智能化充电数据管理系统及方法 [P]. 
何源 ;
刘恢 ;
曹阳 ;
汪彦 ;
黄斌 ;
孙瑶 .
中国专利 :CN118082592B ,2024-07-26
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