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自动分析装置和自动分析系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202280054834.3
申请日：
2022-09-07
公开(公告)号：
CN117795345A
公开(公告)日：
2024-03-29
发明(设计)人：
竹内美和 今井健太 板垣游人
申请人：
株式会社日立高新技术
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01N35/00
IPC分类号：
代理机构：
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人：
胡秋瑾;宋俊寅
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-29 公开 公开
2024-04-16 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 35/00申请日:20220907
共 50 条
[1]
自动分析装置和自动分析系统 [P]. 
佐佐木俊辅 ;
今井健太 ;
铃木寿治 ;
坂本和彦 .
中国专利 :CN107923920B ,2018-04-17
[2]
自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法 [P]. 
稻边利幸 ;
牧野彰久 ;
足立作一郎 ;
薮谷千枝 .
中国专利 :CN107923853A ,2018-04-17
[3]
自动分析装置以及自动分析系统 [P]. 
圆田邦夫 ;
圷正志 .
日本专利 :CN112534269B ,2024-04-05
[4]
自动分析装置以及自动分析系统 [P]. 
朝田沙耶佳 ;
井口晃弘 .
日本专利 :CN120077277A ,2025-05-30
[5]
自动分析装置以及自动分析系统 [P]. 
圆田邦夫 ;
圷正志 .
中国专利 :CN112534269A ,2021-03-19
[6]
自动分析装置以及自动分析系统 [P]. 
堀内理绘 ;
安居晃启 .
日本专利 :CN112352162B ,2024-08-27
[7]
自动分析装置以及自动分析系统 [P]. 
堀内理绘 ;
安居晃启 .
中国专利 :CN112352162A ,2021-02-09
[8]
分散控制系统、自动分析装置和自动分析系统 [P]. 
长谷川贵史 .
中国专利 :CN112313515A ,2021-02-02
[9]
自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法 [P]. 
深谷昌史 ;
安居晃启 .
中国专利 :CN113287022A ,2021-08-20
[10]
自动分析装置、自动分析系统以及检体的自动分析方法 [P]. 
末成元 ;
圷正志 ;
三岛弘之 ;
濑户丸武 ;
安居晃启 .
中国专利 :CN113272653A ,2021-08-17
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