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自动分析装置以及自动分析系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980050683.2
申请日
:
2019-05-28
公开(公告)号
:
CN112534269A
公开(公告)日
:
2021-03-19
发明(设计)人
:
圆田邦夫
圷正志
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N3500
IPC分类号
:
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
曾贤伟;范胜杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 35/00 申请日:20190528
2021-03-19
公开
公开
共 50 条
[1]
自动分析装置以及自动分析系统
[P].
圆田邦夫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
圆田邦夫
;
圷正志
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
圷正志
.
日本专利
:CN112534269B
,2024-04-05
[2]
自动分析装置以及自动分析系统
[P].
朝田沙耶佳
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
朝田沙耶佳
;
井口晃弘
论文数:
0
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0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
井口晃弘
.
日本专利
:CN120077277A
,2025-05-30
[3]
自动分析装置以及自动分析系统
[P].
堀内理绘
论文数:
0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
堀内理绘
;
安居晃启
论文数:
0
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0
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0
机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
安居晃启
.
日本专利
:CN112352162B
,2024-08-27
[4]
自动分析装置以及自动分析系统
[P].
堀内理绘
论文数:
0
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堀内理绘
;
安居晃启
论文数:
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0
安居晃启
.
中国专利
:CN112352162A
,2021-02-09
[5]
自动分析装置、自动分析系统以及检体的自动分析方法
[P].
末成元
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末成元
;
圷正志
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0
圷正志
;
三岛弘之
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三岛弘之
;
濑户丸武
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濑户丸武
;
安居晃启
论文数:
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安居晃启
.
中国专利
:CN113272653A
,2021-08-17
[6]
自动分析装置、自动分析系统及样品的自动分析方法
[P].
深谷昌史
论文数:
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深谷昌史
;
安居晃启
论文数:
0
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0
安居晃启
.
中国专利
:CN113287022A
,2021-08-20
[7]
自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法
[P].
稻边利幸
论文数:
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稻边利幸
;
牧野彰久
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牧野彰久
;
足立作一郎
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足立作一郎
;
薮谷千枝
论文数:
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薮谷千枝
.
中国专利
:CN107923853A
,2018-04-17
[8]
自动分析装置和自动分析系统
[P].
佐佐木俊辅
论文数:
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佐佐木俊辅
;
今井健太
论文数:
0
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今井健太
;
铃木寿治
论文数:
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铃木寿治
;
坂本和彦
论文数:
0
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0
坂本和彦
.
中国专利
:CN107923920B
,2018-04-17
[9]
自动分析装置和自动分析系统
[P].
竹内美和
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
竹内美和
;
今井健太
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
今井健太
;
板垣游人
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
板垣游人
.
日本专利
:CN117795345A
,2024-03-29
[10]
自动分析装置以及使用该自动分析装置的测定方法
[P].
西崎仁美
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
西崎仁美
;
牛久惠美子
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
牛久惠美子
;
古矢美树
论文数:
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
古矢美树
.
日本专利
:CN120569631A
,2025-08-29
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