用于测试仪器的测试单元

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专利类型
实用新型
申请号
CN200520132829.3
申请日
2005-11-15
公开(公告)号
CN2849698Y
公开(公告)日
2006-12-20
发明(设计)人
徐地华
申请人
申请人地址
523000广东省东莞市城区建华新邨45号5楼
IPC主分类号
G01N300
IPC分类号
代理机构
北京安博达知识产权代理有限公司
代理人
徐国文
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
用于仪器测试笔的夹持装置和测试仪器 [P]. 
刘康宁 ;
赵海生 ;
张志锋 ;
方阳阳 ;
刘阳 .
中国专利 :CN222028308U ,2024-11-19
[2]
用于固定测试仪器的装置 [P]. 
王洪来 ;
任竹岩 .
中国专利 :CN201476955U ,2010-05-19
[3]
一种测试仪器的探头和测试仪器 [P]. 
张天宝 ;
王纵 .
中国专利 :CN211718351U ,2020-10-20
[4]
用于材料切削性能测试的测试仪器 [P]. 
孙皓 ;
杨方 ;
沈熙炜 ;
唐雪锋 ;
钟伟 ;
周耀国 ;
秦晓峰 ;
徐建 ;
刘跟红 ;
鲍晓东 .
中国专利 :CN210571788U ,2020-05-19
[5]
测试接头及测试仪器 [P]. 
张业华 ;
谭迎春 ;
赵勇刚 ;
匡小军 ;
梁秋妮 ;
赵嵘峥 ;
刘丽霞 ;
陈艺城 ;
夏晓波 ;
冯守桂 ;
罗小红 .
中国专利 :CN206601408U ,2017-10-31
[6]
视觉测试仪器 [P]. 
冯远飞 ;
冯开乾 ;
刘文 .
中国专利 :CN206235580U ,2017-06-09
[7]
智能测试仪器 [P]. 
汪多阔 ;
陈波 ;
吴军 .
中国专利 :CN211954261U ,2020-11-17
[8]
耳机测试仪器 [P]. 
曹登良 .
中国专利 :CN212970109U ,2021-04-13
[9]
跌落测试仪器 [P]. 
昝清龙 .
中国专利 :CN205808661U ,2016-12-14
[10]
半导体器件测试仪器和用于该测试仪器的测试盘 [P]. 
伊藤明彦 ;
小林义仁 ;
增尾芳幸 ;
山下毅 .
中国专利 :CN1226635C ,1999-12-01