半导体器件测试仪器和用于该测试仪器的测试盘

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN98801238.3

申请日：

1998-07-02

公开(公告)号：

CN1226635C

公开(公告)日：

1999-12-01

发明(设计)人：

伊藤明彦小林义仁增尾芳幸山下毅

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

马莹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1999-12-01	公开	公开
2005-11-09	授权	授权
2012-09-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101321160676 IPC(主分类):G01R 31/26 专利号:ZL988012383 申请日:19980702 授权公告日:20051109 终止日期:20110702

共 50 条

[1]

半导体器件测试仪器的壳体部 [P].

池内秀树 ;

小林徹 ;

青山健太 ;

小石和则 ;

神本真希 .

日本专利 :CN309034936S ,2024-12-27

[2]

半导体器件测试仪器的壳体部 [P].

白户顺 ;

小森隆行 ;

小石和则 ;

神本真希 .

日本专利 :CN309135060S ,2025-02-25

[3]

半导体器件测试仪器的输送装置部 [P].

池内秀树 ;

成田聪 ;

小石和则 ;

神本真希 .

日本专利 :CN309135059S ,2025-02-25

[4]

测试仪器 [P].

M·雅克·多乐 .

中国专利 :CN303653912S ,2016-04-27

[5]

测试仪器 [P].

范学斌 ;

陈晓东 ;

廉哲 .

中国专利 :CN309620848S ,2025-11-21

[6]

测试仪器 [P].

徐地华 .

中国专利 :CN3568636D ,2006-10-11

[7]

测试仪器 [P].

陈宇新 ;

严嘉辉 ;

罗告京 .

中国专利 :CN307463054S ,2022-07-22

[8]

测试仪器 [P].

廖磊 ;

张应海 ;

张应山 .

中国专利 :CN303653913S ,2016-04-27

[9]

用于测试仪器的测试单元 [P].

徐地华 .

中国专利 :CN2849698Y ,2006-12-20

[10]

一种测试仪器的探头和测试仪器 [P].

张天宝 ;

王纵 .

中国专利 :CN211718351U ,2020-10-20

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