一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310112461.3

申请日：

2013-04-01

公开(公告)号：

CN103197340B

公开(公告)日：

2013-07-10

发明(设计)人：

潘树国聂文锋胡伍生

申请人：

申请人地址：

211189 江苏省南京市江宁区东南大学路2号

IPC主分类号：

G01T129

IPC分类号：

代理机构：

南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249

代理人：

杨晓玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-13	授权	授权
2020-03-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T 1/29 申请日:20130401 授权公告日:20150513 终止日期:20190401
2013-07-10	公开	公开
2013-08-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101503526784 IPC(主分类):G01T 1/29 专利申请号:2013101124613 申请日:20130401

共 50 条

[1]

电离层闪烁及电离层电子总含量监测装置 [P].

余侯芳 ;

邓忠新 ;

王登亮 ;

冯健 ;

李广 ;

刘钝 ;

马宝田 ;

甄卫民 ;

袁亚平 .

中国专利 :CN106134463B ,2014-08-27

[2]

由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法 [P].

王新志 ;

贾军辉 ;

柯福阳 ;

夏安 ;

刘甫 .

中国专利 :CN104298845B ,2015-01-21

[3]

基于TCN模型的电离层总电子含量预报方法 [P].

唐丝语 ;

黄智 ;

陈伟 .

中国专利 :CN111967679A ,2020-11-20

[4]

一种基于深度学习技术的电离层电子浓度总含量时序预测方法 [P].

熊攀 ;

张学民 .

中国专利 :CN111797573A ,2020-10-20

[5]

电离层实时监测方法和装置、系统、存储介质 [P].

汤俊 ;

邵凯旋 ;

丁明飞 ;

杨明龙 ;

周强波 .

中国专利 :CN121186828A ,2025-12-23

[6]

一种电离层总电子含量长期变化分析方法 [P].

刘杨 ;

宾学恒 .

中国专利 :CN111369034B ,2020-07-03

[7]

基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法 [P].

王晓花 .

中国专利 :CN109324314A ,2019-02-12

[8]

基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法 [P].

苏洪涛 ;

刘宏伟 ;

何网 .

中国专利 :CN102508211A ,2012-06-20

[9]

电离层差分电子总含量估计方法及其装置 [P].

知男 ;

眭韵 ;

潘伟川 ;

付海洋 ;

汪登辉 ;

赵毅 ;

冯绍军 .

中国专利 :CN116359956B ,2025-08-26

[10]

一种减少实时电离层延迟格网产品阶跃的方法 [P].

冯国龙 .

中国专利 :CN119916409A ,2025-05-02

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