一种电离层总电子含量长期变化分析方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010047318.0
申请日
2020-01-16
公开(公告)号
CN111369034B
公开(公告)日
2020-07-03
发明(设计)人
刘杨 宾学恒
申请人
申请人地址
100191 北京市海淀区学院路37号
IPC主分类号
G06Q1004
IPC分类号
代理机构
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人
杨学明;邓治平
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
由HY-2卫星反演电离层垂直电离层总电子含量的方法 [P]. 
王新志 ;
贾军辉 ;
柯福阳 ;
夏安 ;
刘甫 .
中国专利 :CN104298845B ,2015-01-21
[2]
基于TCN模型的电离层总电子含量预报方法 [P]. 
唐丝语 ;
黄智 ;
陈伟 .
中国专利 :CN111967679A ,2020-11-20
[3]
一种基于GNSS观测的电离层总电子含量长期趋势的消除方法 [P]. 
李肖霖 ;
熊波 .
中国专利 :CN119291723B ,2025-09-09
[4]
一种基于GNSS观测的电离层总电子含量长期趋势的消除方法 [P]. 
李肖霖 ;
熊波 .
中国专利 :CN119291723A ,2025-01-10
[5]
一种格网化的电离层总电子含量实时监测方法 [P]. 
潘树国 ;
聂文锋 ;
胡伍生 .
中国专利 :CN103197340B ,2013-07-10
[6]
基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法 [P]. 
王晓花 .
中国专利 :CN109324314A ,2019-02-12
[7]
基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法 [P]. 
苏洪涛 ;
刘宏伟 ;
何网 .
中国专利 :CN102508211A ,2012-06-20
[8]
一种电离层总电子含量预测方法、系统、电子设备及介质 [P]. 
汤俊 ;
胡嘉诚 ;
樊慈航 ;
张伟 ;
许浪 .
中国专利 :CN116933083B ,2025-07-08
[9]
一种基于物理参量增强的电离层总电子含量预测方法 [P]. 
翟长治 ;
边少锋 ;
吴泽民 ;
吴欣桐 .
中国专利 :CN121167315A ,2025-12-19
[10]
一种电离层总电子含量预报方法、模型训练方法及系统 [P]. 
吴学群 ;
樊慈航 ;
汤俊 .
中国专利 :CN116797885B ,2025-10-17