光学特性测定装置以及光学特性测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580027456.X

申请日：

2015-05-26

公开(公告)号：

CN106461465A

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

鹤谷克敏

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01J351

IPC分类号：

G01J102 G01J302 G01M1100 G01N2127 G01N2157

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

金光华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-25	授权	授权
2017-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101708778444 IPC(主分类):G01J 3/51 专利申请号:201580027456X 申请日:20150526
2017-02-22	公开	公开

共 50 条

[1]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

冈本宗大 ;

佐佐木勇贵 ;

罗先钦 .

中国专利 :CN108204788B ,2018-06-26

[2]

光学特性测定装置和光学特性测定方法 [P].

石丸伊知郎 .

中国专利 :CN109642868B ,2019-04-16

[3]

适于光谱测定的光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

佐野弘幸 ;

大川内真 ;

大岛浩正 ;

大久保和明 ;

水口勉 ;

志摩史郎 .

中国专利 :CN101726361A ,2010-06-09

[4]

光学特性测定装置 [P].

鹤谷克敏 .

中国专利 :CN109073502B ,2018-12-21

[5]

光学特性测定方法以及光学特性测定系统 [P].

西田吉彦 ;

江南世志 ;

井上展幸 .

中国专利 :CN109752091B ,2019-05-14

[6]

光学特性测定装置以及光学系统 [P].

冈本宗大 ;

佐野弘幸 .

中国专利 :CN106990052B ,2017-07-28

[7]

照明机构以及光学特性测定装置 [P].

兴津昌广 .

中国专利 :CN205719251U ,2016-11-23

[8]

光学特性测定系统及光学特性测定方法 [P].

小林优斗 ;

长谷川健美 ;

林哲也 .

日本专利 :CN119816716A ,2025-04-11

[9]

光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法 [P].

大泽祥宏 ;

水口勉 ;

野口宗裕 .

中国专利 :CN106338469A ,2017-01-18

[10]

衍射光学元件的光学特性测定方法及衍射光学元件的光学特性测定装置 [P].

安藤贵真 ;

是永继博 .

中国专利 :CN101553721A ,2009-10-07

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