光学特性测定装置以及光学系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201611160666.9

申请日：

2016-12-15

公开(公告)号：

CN106990052B

公开(公告)日：

2017-07-28

发明(设计)人：

冈本宗大佐野弘幸

申请人：

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01N2127

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-11-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/27 申请日:20161215
2021-07-27	授权	授权
2017-07-28	公开	公开

共 50 条

[1]

光学系统以及测定装置 [P].

本桥和也 ;

村上一臣 .

日本专利 :CN120677423A ,2025-09-19

[2]

光学系统构造体以及光学测定装置 [P].

兴雄司 ;

吉冈宏晃 ;

森田金市 .

中国专利 :CN209215224U ,2019-08-06

[3]

透镜单元、光学系统、以及分光特性测定装置 [P].

富田充 .

日本专利 :CN117716269A ,2024-03-15

[4]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

鹤谷克敏 .

中国专利 :CN106461465A ,2017-02-22

[5]

光学特性测定装置以及光学特性测定方法 [P].

冈本宗大 ;

佐佐木勇贵 ;

罗先钦 .

中国专利 :CN108204788B ,2018-06-26

[6]

成像光学系统以及距离测定装置 [P].

坂上典久 ;

藤冈孝弘 ;

幡手公英 .

中国专利 :CN101855585B ,2010-10-06

[7]

光学单元以及光学系统 [P].

大友佑太 ;

小松亮二 .

中国专利 :CN108881679B ,2018-11-23

[8]

改善光学系统成像特性的方法以及光学系统 [P].

奥拉夫·康拉迪 .

中国专利 :CN101589342A ,2009-11-25

[9]

光学系统、观察光学系统以及光学装置 [P].

永原晓子 ;

永利由纪子 .

中国专利 :CN105589192A ,2016-05-18

[10]

光学元件以及光学系统、光学装置 [P].

须永敏弘 .

中国专利 :CN100437204C ,2005-10-05

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