光学系统构造体以及光学测定装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201790000627.4

申请日：

2017-02-24

公开(公告)号：

CN209215224U

公开(公告)日：

2019-08-06

发明(设计)人：

兴雄司吉冈宏晃森田金市

申请人：

申请人地址：

日本福冈

IPC主分类号：

G01N2165

IPC分类号：

G01J344

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

徐殿军

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/65 申请日:20170224 授权公告日:20190806 终止日期:20210224
2019-08-06	授权	授权

共 50 条

[1]

光学系统以及测定装置 [P].

本桥和也 ;

村上一臣 .

日本专利 :CN120677423A ,2025-09-19

[2]

光学特性测定装置以及光学系统 [P].

冈本宗大 ;

佐野弘幸 .

中国专利 :CN106990052B ,2017-07-28

[3]

成像光学系统以及距离测定装置 [P].

坂上典久 ;

藤冈孝弘 ;

幡手公英 .

中国专利 :CN101855585B ,2010-10-06

[4]

光学构造体和光学系统 [P].

亚当·D·哈格 ;

赵霖 ;

吉勒斯·J·伯努瓦 ;

白鸟英明 .

美国专利 :CN120153311A ,2025-06-13

[5]

光学构造体和光学系统 [P].

孙晓光 ;

杨朝晖 .

中国专利 :CN115398281A ,2022-11-25

[6]

光学系统、观察光学系统以及光学装置 [P].

永原晓子 ;

永利由纪子 .

中国专利 :CN105589192A ,2016-05-18

[7]

透镜单元、光学系统、以及分光特性测定装置 [P].

富田充 .

日本专利 :CN117716269A ,2024-03-15

[8]

光学系统以及光学装置 [P].

大竹史哲 .

日本专利 :CN114258506B ,2024-02-09

[9]

光学系统 [P].

M·斯拜潘诺维克 ;

篠原义和 ;

姚宇宏 .

中国专利 :CN206348502U ,2017-07-21

[10]

光学测定装置、光学测定系统以及光学测定方法 [P].

小川润一 .

日本专利 :CN119096134A ,2024-12-06

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