一种测试数据分析方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810734104.3

申请日：

2018-07-06

公开(公告)号：

CN108959574A

公开(公告)日：

2018-12-07

发明(设计)人：

宋国军曹海涛张子威陈莉朱德生汪强刘颖

申请人：

申请人地址：

201210 上海市浦东新区张江高科技园区集成电路产业区张东路1558号

IPC主分类号：

G06F1730

IPC分类号：

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251

代理人：

郭桂峰

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-01-31	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F 17/30 申请公布日:20181207
2018-12-07	公开	公开
2019-01-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/30 申请日:20180706

共 50 条

[1]

一种测试数据分析方法及系统 [P].

徐中英 ;

何华锋 ;

岳瑞华 ;

孔祥玉 ;

郑建飞 ;

赵沙乐 ;

李小锋 .

中国专利 :CN113505069A ,2021-10-15

[2]

一种测试数据分析方法及系统 [P].

徐中英 ;

何华锋 ;

岳瑞华 ;

孔祥玉 ;

郑建飞 ;

赵沙乐 ;

李小锋 .

中国专利 :CN113505069B ,2024-01-05

[3]

一种芯片测试数据分析方法及系统 [P].

喻尊 ;

胡磊 .

中国专利 :CN117807396A ,2024-04-02

[4]

一种芯片测试数据分析方法及系统 [P].

孙祥青 ;

杨志刚 ;

汪乐 ;

陈刚 .

中国专利 :CN120216242A ,2025-06-27

[5]

射频测试数据分析方法 [P].

左自国 ;

陈晨 ;

侯德坤 ;

詹海林 .

中国专利 :CN118646494B ,2024-10-22

[6]

射频测试数据分析方法 [P].

左自国 ;

陈晨 ;

侯德坤 ;

詹海林 .

中国专利 :CN118646494A ,2024-09-13

[7]

硬盘测试数据分析方法 [P].

李昆霖 .

中国专利 :CN102999504A ,2013-03-27

[8]

测试数据分析方法及相关产品 [P].

黄志勇 .

中国专利 :CN109408303A ,2019-03-01

[9]

一种芯片测试数据分析方法 [P].

李剑峰 ;

刘光锟 ;

游诗勇 .

中国专利 :CN119597552A ,2025-03-11

[10]

一种熬夜测试数据分析方法 [P].

强健娜 .

中国专利 :CN108542378A ,2018-09-18

← 1 2 3 4 5 →