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一种芯片测试数据分析方法及系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510319199.2
申请日：
2025-03-18
公开(公告)号：
CN120216242A
公开(公告)日：
2025-06-27
发明(设计)人：
孙祥青 杨志刚 汪乐 陈刚
申请人：
苏州芯链智联科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市吴江区江陵街道益和路268号1幢5001室
IPC主分类号：
G06F11/07
IPC分类号：
G06F18/213
代理机构：
苏州汇智联科知识产权代理有限公司 32535
代理人：
赵高
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-27 公开 公开
2025-07-15 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/07申请日:20250318
共 50 条
[1]
一种芯片测试数据分析方法 [P]. 
李剑峰 ;
刘光锟 ;
游诗勇 .
中国专利 :CN119597552A ,2025-03-11
[2]
基于机器学习的芯片测试数据分析方法 [P]. 
黄斌华 ;
刘超 .
中国专利 :CN121234083A ,2025-12-30
[3]
一种芯片测试数据分析方法及系统 [P]. 
喻尊 ;
胡磊 .
中国专利 :CN117807396A ,2024-04-02
[4]
一种曲轴动平衡测试数据分析方法及系统 [P]. 
冯学仙 ;
曹火光 ;
王祥 ;
吴娟 ;
冯海博 .
中国专利 :CN119268929A ,2025-01-07
[5]
一种曲轴动平衡测试数据分析方法及系统 [P]. 
冯学仙 ;
曹火光 ;
王祥 ;
吴娟 ;
冯海博 .
中国专利 :CN119268929B ,2025-03-14
[6]
一种芯片晶圆测试数据分析方法及系统 [P]. 
苏广峰 ;
姜伟伟 .
中国专利 :CN112397409A ,2021-02-23
[7]
一种测试数据分析方法及系统 [P]. 
徐中英 ;
何华锋 ;
岳瑞华 ;
孔祥玉 ;
郑建飞 ;
赵沙乐 ;
李小锋 .
中国专利 :CN113505069A ,2021-10-15
[8]
一种测试数据分析方法及系统 [P]. 
徐中英 ;
何华锋 ;
岳瑞华 ;
孔祥玉 ;
郑建飞 ;
赵沙乐 ;
李小锋 .
中国专利 :CN113505069B ,2024-01-05
[9]
一种电池性能测试数据分析方法、系统、设备及介质 [P]. 
廖长江 ;
雷宪章 ;
和永 ;
刘雨禾 ;
李小琪 ;
曾婧 ;
伍彩虹 ;
舒松 .
中国专利 :CN120121996A ,2025-06-10
[10]
一种冲压切断装置的性能测试数据分析方法及系统 [P]. 
余定达 .
中国专利 :CN118760937B ,2024-12-06
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