一种质谱仪质量分析器固定装置

被引：0

申请号：

CN202220978417.5

申请日：

2022-04-26

公开(公告)号：

CN217108989U

公开(公告)日：

2022-08-02

发明(设计)人：

赵亚坤刘力源张健蔡克亚

申请人：

申请人地址：

450016 河南省郑州市经济技术开发区经开第十五大街199号

IPC主分类号：

F16M1122

IPC分类号：

F16M1104 H01J4906

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

张欣然

法律状态：

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国省代码：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-02	授权	授权

共 50 条

[21]

一种质量分析器及多次反射飞行时间质谱仪 [P].

郭子涵 ;

黄奇 .

中国专利 :CN115472487A ,2022-12-13

[22]

离子质量分析器 [P].

吴云昭 ;

韩乐乐 ;

尚元贺 ;

李向广 ;

张子奇 ;

蔡克亚 .

中国专利 :CN112435914B ,2024-10-11

[23]

一种离子阱质量分析器 [P].

鲍晶伟 ;

张俊良 ;

何芊颖 ;

顾冰艳 ;

张滕宇 ;

吴焕铭 .

中国专利 :CN215069878U ,2021-12-07

[24]

质量分析器 [P].

丁力 ;

亚历山大·鲁西诺夫 .

中国专利 :CN106663588B ,2017-05-10

[25]

质量分析器 [P].

丁力 ;

亚历山大·鲁西诺夫 .

中国专利 :CN110060918B ,2019-07-26

[26]

质量分析器 [P].

赛义德·鲍姆塞勒克 ;

柏拉卡斯·斯里达尔·穆尔蒂 ;

戴夫·安德森 .

中国专利 :CN110392918B ,2019-10-29

[27]

质量分析器 [P].

E·V·德尼索夫 ;

A·霍洛弥夫 ;

J-P·哈奇尔德 ;

A·A·马卡洛夫 .

中国专利 :CN103518250B ,2014-01-15

[28]

一种质谱仪质量分析器内缓冲气体快速高精度连续控制方法 [P].

程平 ;

薛斌 ;

孙露露 ;

董俊国 ;

黄正旭 ;

傅忠 ;

周振 .

中国专利 :CN102842481A ,2012-12-26

[29]

直线形质量分析器 [P].

王亮 .

中国专利 :CN210182330U ,2020-03-24

[30]

一种新型质量分析器 [P].

苏孝利 ;

翁齐盛 ;

高晨杉 ;

陈伟 .

中国专利 :CN222482112U ,2025-02-14

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