测试座(芯片测试座)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202330428220.4
申请日
2023-07-10
公开(公告)号
CN308470272S
公开(公告)日
2024-02-13
发明(设计)人
李军 李天雨
申请人
东莞市唯帝信息技术有限公司
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖园区科技二路5号1栋1303室
IPC主分类号
10-05
IPC分类号
代理机构
广东华湘信达专利商标代理事务所(普通合伙) 44958
代理人
严晓彪
法律状态
授权
国省代码
广东省 东莞市
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共 50 条
[1]
芯片测试座 [P]. 
孟霖 ;
何俊 ;
胡晓蔚 .
中国专利 :CN308538407S ,2024-03-26
[2]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[3]
芯片烧录测试座 [P]. 
陈辉 ;
张俊菊 .
中国专利 :CN309281333S ,2025-05-09
[4]
芯片测试座(IC) [P]. 
谢志斌 ;
谢森华 .
中国专利 :CN309055915S ,2025-01-07
[5]
芯片测试座(2) [P]. 
张以细 .
中国专利 :CN309490668S ,2025-09-12
[6]
芯片测试座(1) [P]. 
张以细 .
中国专利 :CN309467408S ,2025-08-29
[7]
芯片测试座 [P]. 
王锐 ;
夏群 .
中国专利 :CN103926429A ,2014-07-16
[8]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30
[9]
芯片测试座 [P]. 
梁民 .
中国专利 :CN212568852U ,2021-02-19
[10]
芯片测试座 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN217007595U ,2022-07-19