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测试座(芯片测试座)
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN202330428220.4
申请日
:
2023-07-10
公开(公告)号
:
CN308470272S
公开(公告)日
:
2024-02-13
发明(设计)人
:
李军
李天雨
申请人
:
东莞市唯帝信息技术有限公司
申请人地址
:
523000 广东省东莞市松山湖园区科技二路5号1栋1303室
IPC主分类号
:
10-05
IPC分类号
:
代理机构
:
广东华湘信达专利商标代理事务所(普通合伙) 44958
代理人
:
严晓彪
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 东莞市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-13
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试座
[P].
孟霖
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
孟霖
;
何俊
论文数:
0
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0
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0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
何俊
;
胡晓蔚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
胡晓蔚
.
中国专利
:CN308538407S
,2024-03-26
[2]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
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0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
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0
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0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[3]
芯片烧录测试座
[P].
陈辉
论文数:
0
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0
机构:
东莞市海洛电子科技有限公司
东莞市海洛电子科技有限公司
陈辉
;
张俊菊
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0
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0
机构:
东莞市海洛电子科技有限公司
东莞市海洛电子科技有限公司
张俊菊
.
中国专利
:CN309281333S
,2025-05-09
[4]
芯片测试座(IC)
[P].
谢志斌
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢志斌
;
谢森华
论文数:
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0
机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢森华
.
中国专利
:CN309055915S
,2025-01-07
[5]
芯片测试座(2)
[P].
张以细
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
佛山市翔振电子有限公司
佛山市翔振电子有限公司
张以细
.
中国专利
:CN309490668S
,2025-09-12
[6]
芯片测试座(1)
[P].
张以细
论文数:
0
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0
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0
机构:
佛山市翔振电子有限公司
佛山市翔振电子有限公司
张以细
.
中国专利
:CN309467408S
,2025-08-29
[7]
芯片测试座
[P].
王锐
论文数:
0
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0
王锐
;
夏群
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0
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0
夏群
.
中国专利
:CN103926429A
,2014-07-16
[8]
芯片测试座
[P].
陈凯
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈凯
.
中国专利
:CN218180924U
,2022-12-30
[9]
芯片测试座
[P].
梁民
论文数:
0
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0
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0
梁民
.
中国专利
:CN212568852U
,2021-02-19
[10]
芯片测试座
[P].
殷凌一
论文数:
0
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0
殷凌一
.
中国专利
:CN217007595U
,2022-07-19
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