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芯片测试座(2)
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN202430841694.6
申请日
:
2024-12-31
公开(公告)号
:
CN309490668S
公开(公告)日
:
2025-09-12
发明(设计)人
:
张以细
申请人
:
佛山市翔振电子有限公司
申请人地址
:
528200 广东省佛山市南海区丹灶镇塱心张家村东大街1号之二(住所申报)
IPC主分类号
:
10-05
IPC分类号
:
代理机构
:
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
:
李彦孚
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-12
授权
授权
共 50 条
[1]
测试座(芯片测试座)
[P].
李军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市唯帝信息技术有限公司
东莞市唯帝信息技术有限公司
李军
;
李天雨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市唯帝信息技术有限公司
东莞市唯帝信息技术有限公司
李天雨
.
中国专利
:CN308470272S
,2024-02-13
[2]
芯片测试座
[P].
孟霖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
孟霖
;
何俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
何俊
;
胡晓蔚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江邦睿达科技有限公司
浙江邦睿达科技有限公司
胡晓蔚
.
中国专利
:CN308538407S
,2024-03-26
[3]
芯片测试座(IC)
[P].
谢志斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢志斌
;
谢森华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢森华
.
中国专利
:CN309055915S
,2025-01-07
[4]
芯片测试座(1)
[P].
张以细
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
佛山市翔振电子有限公司
佛山市翔振电子有限公司
张以细
.
中国专利
:CN309467408S
,2025-08-29
[5]
芯片测试座
[P].
王锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王锐
;
夏群
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
夏群
.
中国专利
:CN103926429A
,2014-07-16
[6]
芯片测试座
[P].
陈凯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈凯
.
中国专利
:CN218180924U
,2022-12-30
[7]
芯片测试座
[P].
殷凌一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷凌一
.
中国专利
:CN217007595U
,2022-07-19
[8]
芯片测试座
[P].
梁民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁民
.
中国专利
:CN212568852U
,2021-02-19
[9]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
引用数:
0
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0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[10]
芯片烧录测试座
[P].
陈辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市海洛电子科技有限公司
东莞市海洛电子科技有限公司
陈辉
;
张俊菊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东莞市海洛电子科技有限公司
东莞市海洛电子科技有限公司
张俊菊
.
中国专利
:CN309281333S
,2025-05-09
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