芯片测试座(2)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202430841694.6
申请日
2024-12-31
公开(公告)号
CN309490668S
公开(公告)日
2025-09-12
发明(设计)人
张以细
申请人
佛山市翔振电子有限公司
申请人地址
528200 广东省佛山市南海区丹灶镇塱心张家村东大街1号之二(住所申报)
IPC主分类号
10-05
IPC分类号
代理机构
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
李彦孚
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试座(芯片测试座) [P]. 
李军 ;
李天雨 .
中国专利 :CN308470272S ,2024-02-13
[2]
芯片测试座 [P]. 
孟霖 ;
何俊 ;
胡晓蔚 .
中国专利 :CN308538407S ,2024-03-26
[3]
芯片测试座(IC) [P]. 
谢志斌 ;
谢森华 .
中国专利 :CN309055915S ,2025-01-07
[4]
芯片测试座(1) [P]. 
张以细 .
中国专利 :CN309467408S ,2025-08-29
[5]
芯片测试座 [P]. 
王锐 ;
夏群 .
中国专利 :CN103926429A ,2014-07-16
[6]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30
[7]
芯片测试座 [P]. 
殷凌一 .
中国专利 :CN217007595U ,2022-07-19
[8]
芯片测试座 [P]. 
梁民 .
中国专利 :CN212568852U ,2021-02-19
[9]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[10]
芯片烧录测试座 [P]. 
陈辉 ;
张俊菊 .
中国专利 :CN309281333S ,2025-05-09