一种光接收芯片测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322274895.5

申请日：

2023-08-23

公开(公告)号：

CN220709223U

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

黄祥恩匡嘉乐韦文龙唐佛雨李乐宜廖云峰

申请人：

桂林芯隆科技有限公司

申请人地址：

541000 广西壮族自治区桂林市高新区信息产业园D-08号地块2＃生产车间

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙) 45134

代理人：

白洪

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光芯片自动耦合测试设备 [P].

龚渤 ;

李鑫 ;

任涛 ;

张亮 ;

魏雍 .

中国专利 :CN216848044U ,2022-06-28

[2]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[3]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[4]

一种芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

林佳 ;

罗双武 ;

黄海霞 .

中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12

[5]

一种芯片测试设备 [P].

陈建从 ;

唐仁伟 ;

吴永红 ;

孙成扬 .

中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19

[6]

一种芯片测试设备 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN119805172B ,2025-08-05

[7]

一种芯片测试设备 [P].

魏秀强 ;

彭琪 ;

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20

[8]

一种芯片测试设备 [P].

孙成扬 ;

文根发 .

中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08

[9]

一种芯片测试设备 [P].

陶云彬 .

中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02

[10]

一种芯片测试设备 [P].

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965520A ,2020-11-20

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