一种芯片测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510298388.6

申请日：

2025-03-13

公开(公告)号：

CN119805172B

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

谢登煌

申请人：

深圳市晶存科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

张志辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	公开	公开
2025-08-05	授权	授权
2025-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250313

共 50 条

[1]

一种芯片测试设备 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN119805172A ,2025-04-11

[2]

一种芯片测试设备 [P].

周建松 .

中国专利 :CN119535157A ,2025-02-28

[3]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[4]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[5]

一种芯片测试传动模组及测试设备 [P].

刘飞 ;

唐召来 ;

吴海裕 ;

黎满标 .

中国专利 :CN222433518U ,2025-02-07

[6]

一种光接收芯片测试设备 [P].

黄祥恩 ;

匡嘉乐 ;

韦文龙 ;

唐佛雨 ;

李乐宜 ;

廖云峰 .

中国专利 :CN220709223U ,2024-04-02

[7]

一种芯片测试机及芯片测试设备 [P].

孙成扬 .

中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18

[8]

一种芯片测试设备 [P].

徐银森 ;

林佳 ;

罗双武 ;

黄海霞 .

中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12

[9]

一种芯片测试设备 [P].

孙征 .

中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30

[10]

一种芯片测试设备 [P].

陈建从 ;

唐仁伟 ;

吴永红 ;

孙成扬 .

中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19

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