共 50 条
[21]
[22]
[23]
[24]
[25]
[26]
[27]
[28]
[29]
[30]
一种芯片测试设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510298388.6
申请日：
2025-03-13
公开(公告)号：
CN119805172B
公开(公告)日：
2025-08-05
发明(设计)人：
谢登煌
申请人：
深圳市晶存科技股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人：
张志辉
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-04-11 | 公开 | 公开 |
| 2025-08-05 | 授权 | 授权 |
| 2025-04-29 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250313 |