一种感光芯片测试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710293627.4
申请日
2017-04-28
公开(公告)号
CN106896315A
公开(公告)日
2017-06-27
发明(设计)人
胡依光 刘健康
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
张海英;林波
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
一种感光芯片测试设备 [P]. 
胡依光 ;
刘健康 .
中国专利 :CN206671488U ,2017-11-24
[2]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[3]
一种芯片测试设备 [P]. 
周建松 .
中国专利 :CN119535157A ,2025-02-28
[4]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[5]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙征 .
中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN118914824A ,2024-11-08
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN119805172B ,2025-08-05
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
魏秀强 ;
彭琪 ;
黄思琪 ;
宋克江 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08