一种芯片测试设备

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专利类型
发明
申请号
CN202411605455.6
申请日
2024-11-11
公开(公告)号
CN119535157A
公开(公告)日
2025-02-28
发明(设计)人
周建松
申请人
无锡艾方芯动自动化设备有限公司
申请人地址
214000 江苏省无锡市锡山区先锋中路6号中国电子(无锡)数字芯城3B#-A
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
黄春晓
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
一种芯片测试设备 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN119805172B ,2025-08-05
[2]
一种芯片测试设备 [P]. 
谢登煌 .
中国专利 :CN119805172A ,2025-04-11
[3]
一种芯片测试传动模组及测试设备 [P]. 
刘飞 ;
唐召来 ;
吴海裕 ;
黎满标 .
中国专利 :CN222433518U ,2025-02-07
[4]
一种芯片测试机及芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 .
中国专利 :CN120971936A ,2025-11-18
[5]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙征 .
中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN223244755U ,2025-08-19
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
陈建从 ;
唐仁伟 ;
吴永红 ;
孙成扬 .
中国专利 :CN118914824A ,2024-11-08
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
魏秀强 ;
彭琪 ;
黄思琪 ;
宋克江 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223205615U ,2025-08-08