一种全自动芯片高效测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411742023.X

申请日：

2024-11-29

公开(公告)号：

CN119596107B

公开(公告)日：

2025-10-28

发明(设计)人：

张治强杨师苏允康郭东林

申请人：

广东长兴半导体科技有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市松山湖园区科技九路2号2栋101室、201室、301室、501室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/02 B65G47/90

代理机构：

东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803

代理人：

陈柏陶

法律状态：

公开

国省代码：

广东省东莞市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-11	公开	公开
2025-03-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241129
2025-10-28	授权	授权

共 50 条

[1]

一种全自动芯片高效测试设备 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 ;

郭东林 .

中国专利 :CN119596107A ,2025-03-11

[2]

一种光芯片自动耦合测试设备 [P].

龚渤 ;

李鑫 ;

任涛 ;

张亮 ;

魏雍 .

中国专利 :CN216848044U ,2022-06-28

[3]

一种多用途芯片高速测试设备 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN118914819A ,2024-11-08

[4]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[5]

一种芯片测试设备的测试机构 [P].

张治强 ;

杨师 ;

苏允康 .

中国专利 :CN223051462U ,2025-07-01

[6]

一种光接收芯片测试设备 [P].

黄祥恩 ;

匡嘉乐 ;

韦文龙 ;

唐佛雨 ;

李乐宜 ;

廖云峰 .

中国专利 :CN220709223U ,2024-04-02

[7]

一种芯片测试设备 [P].

孙征 .

中国专利 :CN115532631A ,2022-12-30

[8]

一种芯片测试设备 [P].

谢登煌 .

中国专利 :CN119805172B ,2025-08-05

[9]

一种芯片测试设备 [P].

魏秀强 ;

彭琪 ;

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965519A ,2020-11-20

[10]

一种芯片测试设备 [P].

黄思琪 ;

宋克江 ;

闫大鹏 .

中国专利 :CN111965520A ,2020-11-20

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