一种芯片测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510298388.6

申请日：

2025-03-13

公开(公告)号：

CN119805172B

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

谢登煌

申请人：

深圳市晶存科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区福保街道福保社区市花路创凌通科技大厦三层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

张志辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-11	公开	公开
2025-08-05	授权	授权
2025-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250313

共 50 条

[41]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[42]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[43]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02

[44]

一种芯片测试设备 [P].

请求不公布姓名 ;

夏嵩 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN223347009U ,2025-09-16

[45]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160B ,2025-09-19

[46]

一种芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

卢苗 .

中国专利 :CN119805160A ,2025-04-11

[47]

一种闪存芯片高效测试板 [P].

王玉伟 ;

孙丹归 ;

郑双桥 ;

邹小玲 .

中国专利 :CN220439250U ,2024-02-02

[48]

一种CSP芯片测试用的探针测试装置及CSP芯片测试设备 [P].

孙名瑞 ;

朱剑飞 ;

何琦 .

中国专利 :CN220509084U ,2024-02-20

[49]

一种芯片测试设备防辐射装置 [P].

陈荣峰 .

中国专利 :CN215450923U ,2022-01-07

[50]

一种芯片测试设备及控制方法 [P].

文根发 .

中国专利 :CN120254340A ,2025-07-04

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