一种闪存芯片高效测试板

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202322075014.7
申请日
2023-08-03
公开(公告)号
CN220439250U
公开(公告)日
2024-02-02
发明(设计)人
王玉伟 孙丹归 郑双桥 邹小玲
申请人
深圳市卓然电子有限公司
申请人地址
518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路95-1号B501
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
G01R31/28 G01R1/04
代理机构
深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785
代理人
陈建
法律状态
授权
国省代码
广东省 深圳市
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[2]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
詹焕 ;
张剑勇 .
中国专利 :CN218240313U ,2023-01-06
[3]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
邵训练 ;
钟林 .
中国专利 :CN220305991U ,2024-01-05
[4]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217360006U ,2022-09-02
[5]
一种PCIe Gen4高速闪存芯片测试板 [P]. 
谭少鹏 ;
王欣 ;
唐承超 ;
彭坚 .
中国专利 :CN222939666U ,2025-06-03
[6]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王玉伟 ;
邹小玲 ;
孙丹归 ;
郑双桥 .
中国专利 :CN220691719U ,2024-03-29
[7]
一种芯片测试板 [P]. 
庄渊胜 ;
蔡江梁 ;
王强 .
中国专利 :CN212845769U ,2021-03-30
[8]
一种闪存双通道芯片整板测试装置 [P]. 
张治强 ;
张茜 ;
陈宝纯 ;
卢冠华 .
中国专利 :CN222070772U ,2024-11-26
[9]
一种多功能闪存芯片测试架 [P]. 
杨德军 .
中国专利 :CN213091809U ,2021-04-30
[10]
一种闪存芯片测试方法和系统 [P]. 
蔡德智 ;
王永成 ;
韩飞 .
中国专利 :CN108564984B ,2018-09-21