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一种闪存芯片高效测试板
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322075014.7
申请日
:
2023-08-03
公开(公告)号
:
CN220439250U
公开(公告)日
:
2024-02-02
发明(设计)人
:
王玉伟
孙丹归
郑双桥
邹小玲
申请人
:
深圳市卓然电子有限公司
申请人地址
:
518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路95-1号B501
IPC主分类号
:
G11C29/56
IPC分类号
:
G01R31/28
G01R1/04
代理机构
:
深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785
代理人
:
陈建
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-02
授权
授权
共 50 条
[1]
闪存芯片测试板
[P].
江小俊
论文数:
0
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0
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
.
中国专利
:CN223273025U
,2025-08-26
[2]
一种闪存芯片高效测试板
[P].
詹焕
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詹焕
;
张剑勇
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张剑勇
.
中国专利
:CN218240313U
,2023-01-06
[3]
一种闪存芯片高效测试板
[P].
邵训练
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机构:
合肥市华宇半导体有限公司
合肥市华宇半导体有限公司
邵训练
;
钟林
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机构:
合肥市华宇半导体有限公司
合肥市华宇半导体有限公司
钟林
.
中国专利
:CN220305991U
,2024-01-05
[4]
一种闪存芯片测试架
[P].
王玉伟
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王玉伟
;
何静
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何静
;
王一凡
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王一凡
;
何贵银
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何贵银
.
中国专利
:CN217360006U
,2022-09-02
[5]
一种PCIe Gen4高速闪存芯片测试板
[P].
谭少鹏
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
谭少鹏
;
王欣
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
王欣
;
唐承超
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
唐承超
;
彭坚
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机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
彭坚
.
中国专利
:CN222939666U
,2025-06-03
[6]
一种闪存芯片测试机
[P].
王玉伟
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
;
邹小玲
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
邹小玲
;
孙丹归
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
孙丹归
;
郑双桥
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
郑双桥
.
中国专利
:CN220691719U
,2024-03-29
[7]
一种芯片测试板
[P].
庄渊胜
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庄渊胜
;
蔡江梁
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蔡江梁
;
王强
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王强
.
中国专利
:CN212845769U
,2021-03-30
[8]
一种闪存双通道芯片整板测试装置
[P].
张治强
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张治强
;
张茜
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张茜
;
陈宝纯
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
陈宝纯
;
卢冠华
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机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
卢冠华
.
中国专利
:CN222070772U
,2024-11-26
[9]
一种多功能闪存芯片测试架
[P].
杨德军
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杨德军
.
中国专利
:CN213091809U
,2021-04-30
[10]
一种闪存芯片测试方法和系统
[P].
蔡德智
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蔡德智
;
王永成
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王永成
;
韩飞
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韩飞
.
中国专利
:CN108564984B
,2018-09-21
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