一种闪存芯片测试架

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申请号
CN202221104349.6
申请日
2022-05-10
公开(公告)号
CN217360006U
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
王玉伟 何静 王一凡 何贵银
申请人
申请人地址
518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路7号刘屋工业区第3栋一楼
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785
代理人
华江瑞
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
闪存芯片测试架 [P]. 
陈任佳 ;
陈海 .
中国专利 :CN204102121U ,2015-01-14
[2]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
向正友 ;
卢宏伟 .
中国专利 :CN205302958U ,2016-06-08
[3]
一种多功能闪存芯片测试架 [P]. 
杨德军 .
中国专利 :CN213091809U ,2021-04-30
[4]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[5]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
王玉伟 ;
孙丹归 ;
郑双桥 ;
邹小玲 .
中国专利 :CN220439250U ,2024-02-02
[6]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
詹焕 ;
张剑勇 .
中国专利 :CN218240313U ,2023-01-06
[7]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
王玉伟 ;
邹小玲 ;
孙丹归 ;
郑双桥 .
中国专利 :CN220691719U ,2024-03-29
[8]
芯片测试架 [P]. 
田景均 .
中国专利 :CN211402438U ,2020-09-01
[9]
闪存存储芯片测试装置 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN223155675U ,2025-07-25
[10]
一种闪存芯片测试机 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 ;
黄传红 .
中国专利 :CN222734680U ,2025-04-08