闪存芯片测试架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201420498131.2
申请日
2014-08-29
公开(公告)号
CN204102121U
公开(公告)日
2015-01-14
发明(设计)人
陈任佳 陈海
申请人
申请人地址
518108 广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502
IPC主分类号
G06F1202
IPC分类号
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
谢志为
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种多功能闪存芯片测试架 [P]. 
杨德军 .
中国专利 :CN213091809U ,2021-04-30
[2]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217360006U ,2022-09-02
[3]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[4]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
向正友 ;
卢宏伟 .
中国专利 :CN205302958U ,2016-06-08
[5]
一种闪存芯片高效测试板 [P]. 
王玉伟 ;
孙丹归 ;
郑双桥 ;
邹小玲 .
中国专利 :CN220439250U ,2024-02-02
[6]
闪存芯片测试方法 [P]. 
谢中华 ;
韩文娟 ;
孙嘉轩 .
中国专利 :CN120089179A ,2025-06-03
[7]
闪存芯片测试方法 [P]. 
谢中华 ;
韩文娟 ;
孙嘉轩 .
中国专利 :CN120089179B ,2025-12-05
[8]
闪存芯片测试方法 [P]. 
谢中华 ;
韩文娟 ;
孙嘉轩 .
中国专利 :CN120089180B ,2025-11-14
[9]
闪存芯片测试方法 [P]. 
谢中华 ;
韩文娟 ;
孙嘉轩 .
中国专利 :CN120089180A ,2025-06-03
[10]
闪存芯片测试装置及测试设备 [P]. 
覃义平 .
中国专利 :CN220290465U ,2024-01-02