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闪存芯片测试架
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420498131.2
申请日
:
2014-08-29
公开(公告)号
:
CN204102121U
公开(公告)日
:
2015-01-14
发明(设计)人
:
陈任佳
陈海
申请人
:
申请人地址
:
518108 广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502
IPC主分类号
:
G06F1202
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
:
谢志为
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-01-14
授权
授权
共 50 条
[1]
一种多功能闪存芯片测试架
[P].
杨德军
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨德军
.
中国专利
:CN213091809U
,2021-04-30
[2]
一种闪存芯片测试架
[P].
王玉伟
论文数:
0
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0
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0
王玉伟
;
何静
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0
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何静
;
王一凡
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0
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王一凡
;
何贵银
论文数:
0
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0
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0
何贵银
.
中国专利
:CN217360006U
,2022-09-02
[3]
闪存芯片测试板
[P].
江小俊
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0
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0
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
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0
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机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
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0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
.
中国专利
:CN223273025U
,2025-08-26
[4]
一种闪存芯片测试架
[P].
向正友
论文数:
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向正友
;
卢宏伟
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0
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0
卢宏伟
.
中国专利
:CN205302958U
,2016-06-08
[5]
一种闪存芯片高效测试板
[P].
王玉伟
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
;
孙丹归
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
孙丹归
;
郑双桥
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
郑双桥
;
邹小玲
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
邹小玲
.
中国专利
:CN220439250U
,2024-02-02
[6]
闪存芯片测试方法
[P].
谢中华
论文数:
0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
谢中华
;
韩文娟
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0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
韩文娟
;
孙嘉轩
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
孙嘉轩
.
中国专利
:CN120089179A
,2025-06-03
[7]
闪存芯片测试方法
[P].
谢中华
论文数:
0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
谢中华
;
韩文娟
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0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
韩文娟
;
孙嘉轩
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
孙嘉轩
.
中国专利
:CN120089179B
,2025-12-05
[8]
闪存芯片测试方法
[P].
谢中华
论文数:
0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
谢中华
;
韩文娟
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0
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机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
韩文娟
;
孙嘉轩
论文数:
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
孙嘉轩
.
中国专利
:CN120089180B
,2025-11-14
[9]
闪存芯片测试方法
[P].
谢中华
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
谢中华
;
韩文娟
论文数:
0
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
韩文娟
;
孙嘉轩
论文数:
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引用数:
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0
机构:
上海华虹宏力半导体制造有限公司
上海华虹宏力半导体制造有限公司
孙嘉轩
.
中国专利
:CN120089180A
,2025-06-03
[10]
闪存芯片测试装置及测试设备
[P].
覃义平
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
覃义平
.
中国专利
:CN220290465U
,2024-01-02
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