闪存芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510182026.0

申请日：

2025-02-18

公开(公告)号：

CN120089180B

公开(公告)日：

2025-11-14

发明(设计)人：

谢中华韩文娟孙嘉轩

申请人：

上海华虹宏力半导体制造有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路1399号

IPC主分类号：

G11C29/08

IPC分类号：

G11C29/50

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

周念念

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/08申请日:20250218
2025-06-03	公开	公开
2025-11-14	授权	授权

共 50 条

[1]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089180A ,2025-06-03

[2]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089179A ,2025-06-03

[3]

闪存芯片测试方法 [P].

谢中华 ;

韩文娟 ;

孙嘉轩 .

中国专利 :CN120089179B ,2025-12-05

[4]

闪存芯片的测试方法 [P].

钱亮 ;

孔蔚然 ;

任栋梁 .

中国专利 :CN101719383B ,2010-06-02

[5]

闪存芯片测试板 [P].

江小俊 ;

乐群英 ;

乐群建 .

中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26

[6]

闪存芯片测试架 [P].

陈任佳 ;

陈海 .

中国专利 :CN204102121U ,2015-01-14

[7]

一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片 [P].

苏志强 ;

舒清明 .

中国专利 :CN102592679A ,2012-07-18

[8]

闪存芯片及其编程方法和测试方法 [P].

王春明 ;

伍峰 ;

郭昕婕 .

中国专利 :CN115331722A ,2022-11-11

[9]

老化测试箱（闪存芯片测试用） [P].

刘冬喜 ;

陈宽勇 .

中国专利 :CN307643788S ,2022-11-08

[10]

一种闪存芯片的测试方法 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN112863587A ,2021-05-28

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