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闪存芯片的测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200910198561.6
申请日：
2009-11-10
公开(公告)号：
CN101719383B
公开(公告)日：
2010-06-02
发明(设计)人：
钱亮
孔蔚然
任栋梁
申请人：
申请人地址：
201203 上海市张江高科技圆区郭守敬路818号
IPC主分类号：
G11C2956
IPC分类号：
代理机构：
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人：
郑玮
法律状态：
专利申请权、专利权的转移
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-06-11 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101701645567 IPC(主分类):G11C 29/56 专利号:ZL2009101985616 变更事项:专利权人 变更前权利人:上海宏力半导体制造有限公司 变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:201203 上海市张江高科技园区郭守敬路818号 变更后权利人:201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号 登记生效日:20140514 |
| 2011-07-13 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101087113889 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2009101985616 申请日:20091110 |
| 2012-12-26 | 授权 | 授权 |
| 2010-06-02 | 公开 | 公开 |