芯片测试架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921746905.8
申请日
2019-10-17
公开(公告)号
CN211402438U
公开(公告)日
2020-09-01
发明(设计)人
田景均
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张小容
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN217360006U ,2022-09-02
[2]
芯片测试固定架 [P]. 
靳亚超 .
中国专利 :CN218470802U ,2023-02-10
[3]
闪存芯片测试架 [P]. 
陈任佳 ;
陈海 .
中国专利 :CN204102121U ,2015-01-14
[4]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[5]
芯片测试电路和芯片测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN215678636U ,2022-01-28
[6]
一种多功能闪存芯片测试架 [P]. 
杨德军 .
中国专利 :CN213091809U ,2021-04-30
[7]
一种芯片测试架 [P]. 
李虎 ;
徐建飞 .
中国专利 :CN210923889U ,2020-07-03
[8]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
凌献忠 ;
田敏 .
中国专利 :CN113219319B ,2024-03-12
[9]
一种芯片测试架 [P]. 
张西碧 .
中国专利 :CN221100838U ,2024-06-07
[10]
集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法 [P]. 
凌献忠 ;
田敏 .
中国专利 :CN113219319A ,2021-08-06