芯片测试固定架

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申请号
CN202222426140.8
申请日
2022-09-14
公开(公告)号
CN218470802U
公开(公告)日
2023-02-10
发明(设计)人
靳亚超
申请人
申请人地址
325200 浙江省温州市瑞安市飞云街道民心路1号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3128
代理机构
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人
林元良
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试针架 [P]. 
陆冀成 ;
陈明 .
中国专利 :CN220626483U ,2024-03-19
[2]
闪存芯片测试板 [P]. 
江小俊 ;
乐群英 ;
乐群建 .
中国专利 :CN223273025U ,2025-08-26
[3]
芯片测试架 [P]. 
田景均 .
中国专利 :CN211402438U ,2020-09-01
[4]
一种存储芯片测试设备 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223513658U ,2025-11-04
[5]
一种芯片测试用固定工位 [P]. 
王亮 .
中国专利 :CN220552897U ,2024-03-01
[6]
芯片位置调节装置以及芯片测试设备 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 ;
彭磊 .
中国专利 :CN217303869U ,2022-08-26
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
陶云彬 .
中国专利 :CN220438494U ,2024-02-02
[8]
芯片工艺监测测试装置 [P]. 
吕学信 .
中国专利 :CN214539904U ,2021-10-29
[9]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[10]
芯片测试座 [P]. 
陈凯 .
中国专利 :CN218180924U ,2022-12-30