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芯片测试固定架
被引:0
申请号
:
CN202222426140.8
申请日
:
2022-09-14
公开(公告)号
:
CN218470802U
公开(公告)日
:
2023-02-10
发明(设计)人
:
靳亚超
申请人
:
申请人地址
:
325200 浙江省温州市瑞安市飞云街道民心路1号
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241
代理人
:
林元良
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试针架
[P].
陆冀成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市佰誉科技有限公司
深圳市佰誉科技有限公司
陆冀成
;
陈明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市佰誉科技有限公司
深圳市佰誉科技有限公司
陈明
.
中国专利
:CN220626483U
,2024-03-19
[2]
闪存芯片测试板
[P].
江小俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
江小俊
;
乐群英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群英
;
乐群建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市嘉德半导体技术有限公司
深圳市嘉德半导体技术有限公司
乐群建
.
中国专利
:CN223273025U
,2025-08-26
[3]
芯片测试架
[P].
田景均
论文数:
0
引用数:
0
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0
田景均
.
中国专利
:CN211402438U
,2020-09-01
[4]
一种存储芯片测试设备
[P].
张亚伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
张亚伟
;
李婷婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
李婷婷
.
中国专利
:CN223513658U
,2025-11-04
[5]
一种芯片测试用固定工位
[P].
王亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海凌耘微电子有限公司
上海凌耘微电子有限公司
王亮
.
中国专利
:CN220552897U
,2024-03-01
[6]
芯片位置调节装置以及芯片测试设备
[P].
杨建设
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨建设
;
张雅凯
论文数:
0
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0
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张雅凯
;
彭磊
论文数:
0
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0
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0
彭磊
.
中国专利
:CN217303869U
,2022-08-26
[7]
一种芯片测试设备
[P].
陶云彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海凌耘微电子有限公司
上海凌耘微电子有限公司
陶云彬
.
中国专利
:CN220438494U
,2024-02-02
[8]
芯片工艺监测测试装置
[P].
吕学信
论文数:
0
引用数:
0
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0
吕学信
.
中国专利
:CN214539904U
,2021-10-29
[9]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
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0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
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0
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0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[10]
芯片测试座
[P].
陈凯
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈凯
.
中国专利
:CN218180924U
,2022-12-30
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