芯片工艺监测测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120648641.3

申请日：

2021-03-31

公开(公告)号：

CN214539904U

公开(公告)日：

2021-10-29

发明(设计)人：

吕学信

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园A3楼906室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

安徽申策知识产权代理事务所(普通合伙) 34178

代理人：

程艳梅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-29	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

胥亚军 ;

洪晴 .

中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17

[2]

芯片测试装置 [P].

刘磊 ;

王露 ;

戴一峰 .

中国专利 :CN213302440U ,2021-05-28

[3]

芯片测试装置 [P].

魏北 ;

刘水庆 .

中国专利 :CN221746098U ,2024-09-20

[4]

芯片的测试装置 [P].

王雷 ;

王鹏 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN223065452U ,2025-07-04

[5]

芯片测试装置 [P].

汤华杰 ;

马文远 ;

陈凝 .

中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10

[6]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

[7]

芯片测试装置和系统 [P].

吴能 ;

许素超 ;

王杰 ;

沈载清 .

中国专利 :CN222672967U ,2025-03-25

[8]

隔离式芯片测试装置 [P].

董秦博 ;

杨国牛 ;

闫欣 ;

许少雄 ;

李盼 ;

洪文婷 .

中国专利 :CN220855095U ,2024-04-26

[9]

一种具备温度模拟环境的芯片测试装置 [P].

陈宗廷 ;

朱放中 ;

王海程 .

中国专利 :CN222896233U ,2025-05-23

[10]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

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