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芯片测试装置和系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202420993449.1
申请日：
2024-05-09
公开(公告)号：
CN222672967U
公开(公告)日：
2025-03-25
发明(设计)人：
吴能
许素超
王杰
沈载清
申请人：
嘉盛半导体（苏州）有限公司
申请人地址：
215027 江苏省苏州市工业园区西沈浒路88号
IPC主分类号：
H01L21/66
IPC分类号：
B07C5/02
B07C5/38
H01L21/67
代理机构：
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人：
折湘
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省
苏州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-03-25 | 授权 | 授权 |