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芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022335873.1
申请日
:
2020-10-20
公开(公告)号
:
CN213302440U
公开(公告)日
:
2021-05-28
发明(设计)人
:
刘磊
王露
戴一峰
申请人
:
申请人地址
:
215316 江苏省苏州市昆山市玉山镇苇城南路1699号9层909-1室
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260
代理人
:
王晨光
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-28
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试装置
[P].
胥亚军
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胥亚军
;
洪晴
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洪晴
.
中国专利
:CN218336951U
,2023-01-17
[2]
芯片测试装置
[P].
魏北
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机构:
江西万泰达电子科技有限公司
江西万泰达电子科技有限公司
魏北
;
刘水庆
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机构:
江西万泰达电子科技有限公司
江西万泰达电子科技有限公司
刘水庆
.
中国专利
:CN221746098U
,2024-09-20
[3]
芯片的测试装置
[P].
王雷
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苏州韬盛电子科技有限公司
苏州韬盛电子科技有限公司
王雷
;
王鹏
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苏州韬盛电子科技有限公司
苏州韬盛电子科技有限公司
王鹏
;
殷岚勇
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机构:
苏州韬盛电子科技有限公司
苏州韬盛电子科技有限公司
殷岚勇
.
中国专利
:CN223065452U
,2025-07-04
[4]
芯片测试装置
[P].
汤华杰
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紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
汤华杰
;
马文远
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紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
马文远
;
陈凝
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紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
陈凝
.
中国专利
:CN221686566U
,2024-09-10
[5]
芯片测试用转接模组及芯片测试装置
[P].
李超
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
李超
;
闻岳
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上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
闻岳
;
钱澄
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
钱澄
;
杨斌
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机构:
上海共进微电子技术有限公司
上海共进微电子技术有限公司
杨斌
.
中国专利
:CN220961612U
,2024-05-14
[6]
芯片测试装置和系统
[P].
吴能
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机构:
嘉盛半导体(苏州)有限公司
嘉盛半导体(苏州)有限公司
吴能
;
许素超
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嘉盛半导体(苏州)有限公司
嘉盛半导体(苏州)有限公司
许素超
;
王杰
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机构:
嘉盛半导体(苏州)有限公司
嘉盛半导体(苏州)有限公司
王杰
;
沈载清
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机构:
嘉盛半导体(苏州)有限公司
嘉盛半导体(苏州)有限公司
沈载清
.
中国专利
:CN222672967U
,2025-03-25
[7]
芯片工艺监测测试装置
[P].
吕学信
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吕学信
.
中国专利
:CN214539904U
,2021-10-29
[8]
隔离式芯片测试装置
[P].
董秦博
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
董秦博
;
杨国牛
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
杨国牛
;
闫欣
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
闫欣
;
许少雄
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
许少雄
;
李盼
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
李盼
;
洪文婷
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机构:
西安西谷微电子有限责任公司
西安西谷微电子有限责任公司
洪文婷
.
中国专利
:CN220855095U
,2024-04-26
[9]
一种芯片测试装置及芯片测试系统
[P].
赵山
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
黄建军
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
黄建军
;
吴永红
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
陈建丛
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
孙钦华
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙钦华
.
中国专利
:CN222353963U
,2025-01-14
[10]
芯片测试座及摄像头芯片测试装置
[P].
谢森华
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谢森华
.
中国专利
:CN207926808U
,2018-09-28
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