芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323425358.2

申请日：

2023-12-15

公开(公告)号：

CN221746098U

公开(公告)日：

2024-09-20

发明(设计)人：

魏北刘水庆

申请人：

江西万泰达电子科技有限公司

申请人地址：

343700 江西省吉安市泰和县数字经济产业园3栋

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京环泰睿辰专利代理有限公司 37322

代理人：

程国栋

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-20	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

胥亚军 ;

洪晴 .

中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17

[2]

芯片测试装置 [P].

刘磊 ;

王露 ;

戴一峰 .

中国专利 :CN213302440U ,2021-05-28

[3]

芯片的测试装置 [P].

王雷 ;

王鹏 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN223065452U ,2025-07-04

[4]

芯片测试装置 [P].

汤华杰 ;

马文远 ;

陈凝 .

中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10

[5]

芯片测试用转接模组及芯片测试装置 [P].

李超 ;

闻岳 ;

钱澄 ;

杨斌 .

中国专利 :CN220961612U ,2024-05-14

[6]

芯片测试装置和系统 [P].

吴能 ;

许素超 ;

王杰 ;

沈载清 .

中国专利 :CN222672967U ,2025-03-25

[7]

芯片工艺监测测试装置 [P].

吕学信 .

中国专利 :CN214539904U ,2021-10-29

[8]

隔离式芯片测试装置 [P].

董秦博 ;

杨国牛 ;

闫欣 ;

许少雄 ;

李盼 ;

洪文婷 .

中国专利 :CN220855095U ,2024-04-26

[9]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[10]

芯片测试座及摄像头芯片测试装置 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN207926808U ,2018-09-28

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