芯片测试夹具和芯片测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310946846.3
申请日
2023-07-28
公开(公告)号
CN117330930A
公开(公告)日
2024-01-02
发明(设计)人
张婵娟 王国峰
申请人
青岛惠科微电子有限公司 北海惠科半导体科技有限公司
申请人地址
266000 山东省青岛市即墨区北安街道办事处太吉路116号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
刘桂兰
法律状态
公开
国省代码
山东省 青岛市
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共 50 条
[1]
芯片测试压块组件、芯片测试夹具及芯片测试装置 [P]. 
冯恒超 ;
杨小明 .
中国专利 :CN118294703A ,2024-07-05
[2]
芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P]. 
王丽荣 ;
李华星 ;
胡晓辉 .
中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14
[3]
芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机 [P]. 
沈炳元 ;
林咏华 .
中国专利 :CN120233127A ,2025-07-01
[4]
芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机 [P]. 
沈炳元 ;
林咏华 .
中国专利 :CN120233127B ,2025-08-08
[5]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28
[6]
芯片测试方法及芯片测试装置 [P]. 
孙文琪 ;
高伟 .
中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22
[7]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02
[8]
芯片测试装置 [P]. 
汤华杰 ;
马文远 ;
陈凝 .
中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10
[9]
芯片测试装置 [P]. 
胥亚军 ;
洪晴 .
中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17
[10]
芯片测试装置 [P]. 
刘磊 ;
王露 ;
戴一峰 .
中国专利 :CN213302440U ,2021-05-28