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芯片测试夹具和芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310946846.3
申请日
:
2023-07-28
公开(公告)号
:
CN117330930A
公开(公告)日
:
2024-01-02
发明(设计)人
:
张婵娟
王国峰
申请人
:
青岛惠科微电子有限公司
北海惠科半导体科技有限公司
申请人地址
:
266000 山东省青岛市即墨区北安街道办事处太吉路116号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R1/04
代理机构
:
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人
:
刘桂兰
法律状态
:
公开
国省代码
:
山东省 青岛市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-02
公开
公开
2024-01-19
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20230728
共 50 条
[1]
芯片测试压块组件、芯片测试夹具及芯片测试装置
[P].
冯恒超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海季丰电子股份有限公司
上海季丰电子股份有限公司
冯恒超
;
杨小明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海季丰电子股份有限公司
上海季丰电子股份有限公司
杨小明
.
中国专利
:CN118294703A
,2024-07-05
[2]
芯片测试板、芯片测试装置和测试系统
[P].
王丽荣
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
王丽荣
;
李华星
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
李华星
;
胡晓辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市时创意电子股份有限公司
深圳市时创意电子股份有限公司
胡晓辉
.
中国专利
:CN223552255U
,2025-11-14
[3]
芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机
[P].
沈炳元
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市凯码时代科技有限公司
深圳市凯码时代科技有限公司
沈炳元
;
林咏华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市凯码时代科技有限公司
深圳市凯码时代科技有限公司
林咏华
.
中国专利
:CN120233127A
,2025-07-01
[4]
芯片旋转测试夹具、芯片测试装置及芯片测试机
[P].
沈炳元
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市凯码时代科技有限公司
深圳市凯码时代科技有限公司
沈炳元
;
林咏华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市凯码时代科技有限公司
深圳市凯码时代科技有限公司
林咏华
.
中国专利
:CN120233127B
,2025-08-08
[5]
芯片测试装置以及芯片测试设备
[P].
曹晓康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
曹晓康
;
孟君威
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
孟君威
;
刘锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
刘锐
.
中国专利
:CN119535180A
,2025-02-28
[6]
芯片测试方法及芯片测试装置
[P].
孙文琪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
孙文琪
;
高伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
高伟
.
中国专利
:CN119003257A
,2024-11-22
[7]
芯片测试装置以及芯片测试设备
[P].
曹晓康
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
曹晓康
;
孟君威
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
孟君威
;
刘锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江老鹰半导体技术有限公司
浙江老鹰半导体技术有限公司
刘锐
.
中国专利
:CN119535180B
,2025-05-02
[8]
芯片测试装置
[P].
汤华杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
汤华杰
;
马文远
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
马文远
;
陈凝
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
陈凝
.
中国专利
:CN221686566U
,2024-09-10
[9]
芯片测试装置
[P].
胥亚军
论文数:
0
引用数:
0
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0
胥亚军
;
洪晴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪晴
.
中国专利
:CN218336951U
,2023-01-17
[10]
芯片测试装置
[P].
刘磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘磊
;
王露
论文数:
0
引用数:
0
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0
王露
;
戴一峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
戴一峰
.
中国专利
:CN213302440U
,2021-05-28
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