芯片测试装置以及芯片测试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510031325.4
申请日
2025-01-09
公开(公告)号
CN119535180B
公开(公告)日
2025-05-02
发明(设计)人
曹晓康 孟君威 刘锐
申请人
浙江老鹰半导体技术有限公司
申请人地址
311800 浙江省绍兴市诸暨市陶朱街道万旺路8号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人
王鑫;彭家恩
法律状态
授权
国省代码
浙江省 绍兴市
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共 50 条
[1]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28
[2]
芯片测试装置和芯片测试设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29
[3]
芯片测试装置 [P]. 
胥亚军 ;
洪晴 .
中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17
[4]
芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P]. 
王丽荣 ;
李华星 ;
胡晓辉 .
中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14
[5]
芯片测试装置及芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
罗双武 .
中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11
[6]
芯片测试方法及芯片测试装置 [P]. 
孙文琪 ;
高伟 .
中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22
[7]
芯片测试夹具和芯片测试装置 [P]. 
张婵娟 ;
王国峰 .
中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02
[8]
芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN110967614B ,2020-04-07
[9]
芯片测试装置 [P]. 
汤华杰 ;
马文远 ;
陈凝 .
中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10
[10]
芯片测试装置 [P]. 
刘磊 ;
王露 ;
戴一峰 .
中国专利 :CN213302440U ,2021-05-28