芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811137339.0

申请日：

2018-09-28

公开(公告)号：

CN110967614B

公开(公告)日：

2020-04-07

发明(设计)人：

不公告发明人

申请人：

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

袁礼君;阚梓瑄

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	公开	公开
2020-05-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20180928
2021-09-24	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN114062890B ,2024-07-30

[2]

芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114062890A ,2022-02-18

[3]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[4]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02

[5]

芯片测试方法及芯片测试设备 [P].

原东明 ;

李亮 ;

申华新 .

中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23

[6]

芯片测试排线及芯片测试设备 [P].

赵海洋 ;

刘乐 ;

刘伟 ;

王健 ;

孔晓琳 ;

张家华 ;

李安平 .

中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01

[7]

芯片测试设备及芯片测试方法 [P].

潘月胜 ;

王梓 ;

霍亮 .

中国专利 :CN117554778A ,2024-02-13

[8]

芯片测试方法、芯片测试电路以及车辆 [P].

范学仕 .

中国专利 :CN120446717A ,2025-08-08

[9]

芯片位置调节装置以及芯片测试设备 [P].

杨建设 ;

张雅凯 ;

彭磊 .

中国专利 :CN217303869U ,2022-08-26

[10]

芯片以及芯片测试方法 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN113740719B ,2024-05-14

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