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芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010795499.5
申请日：
2020-08-10
公开(公告)号：
CN114062890B
公开(公告)日：
2024-07-30
发明(设计)人：
请求不公布姓名
请求不公布姓名
请求不公布姓名
请求不公布姓名
申请人：
杭州旗捷科技股份有限公司
申请人地址：
310051 浙江省杭州市滨江区建业路511号华创大厦12层
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250
代理人：
储照良
法律状态：
著录事项变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-06-11 | 著录事项变更 | 著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:杭州旗捷科技有限公司变更后:杭州旗捷科技股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:310052 浙江省杭州市滨江区滨安路1180号1幢4层421室变更后:310051 浙江省杭州市滨江区建业路511号华创大厦12层 |
| 2024-07-30 | 授权 | 授权 |