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芯片测试主板、测试系统以及测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110434677.6
申请日：
2021-04-22
公开(公告)号：
CN113176493A
公开(公告)日：
2021-07-27
发明(设计)人：
陈辉
申请人：
申请人地址：
300392 天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人：
彭久云
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-08-13 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210422 |
| 2021-07-27 | 公开 | 公开 |