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芯片位置调节装置以及芯片测试设备

被引：0
申请号：
CN202220563260.X
申请日：
2022-03-15
公开(公告)号：
CN217303869U
公开(公告)日：
2022-08-26
发明(设计)人：
杨建设 张雅凯 彭磊
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市昆山市锦溪镇锦顺路188号
IPC主分类号：
G01B1130
IPC分类号：
B25B1100
代理机构：
深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414
代理人：
翁唱玲
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-26 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28
[2]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02
[3]
芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN110967614B ,2020-04-07
[4]
芯片测试排线及芯片测试设备 [P]. 
赵海洋 ;
刘乐 ;
刘伟 ;
王健 ;
孔晓琳 ;
张家华 ;
李安平 .
中国专利 :CN216870739U ,2022-07-01
[5]
芯片测试方法及芯片测试设备 [P]. 
原东明 ;
李亮 ;
申华新 .
中国专利 :CN117590201A ,2024-02-23
[6]
芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN114062890B ,2024-07-30
[7]
芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114062890A ,2022-02-18
[8]
芯片测试设备 [P]. 
张军 ;
赵力 .
中国专利 :CN216979141U ,2022-07-15
[9]
芯片测试设备 [P]. 
段雄斌 ;
张利利 ;
庞华贵 ;
何选民 .
中国专利 :CN114859214A ,2022-08-05
[10]
芯片测试设备以及短路测试设备 [P]. 
杜韦慷 ;
曾泉 ;
陈杰 ;
李新强 .
中国专利 :CN217112607U ,2022-08-02
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