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芯片测试设备以及短路测试设备

被引：0
申请号：
CN202220041021.8
申请日：
2022-01-06
公开(公告)号：
CN217112607U
公开(公告)日：
2022-08-02
发明(设计)人：
杜韦慷 曾泉 陈杰 李新强
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道高桥社区环坪路3号101
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280
代理人：
刘桂兰
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-02 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28
[2]
芯片测试装置以及芯片测试设备 [P]. 
曹晓康 ;
孟君威 ;
刘锐 .
中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02
[3]
芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN110967614B ,2020-04-07
[4]
芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN114062890B ,2024-07-30
[5]
芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114062890A ,2022-02-18
[6]
芯片测试装置和芯片测试设备 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29
[7]
芯片测试装置及芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
罗双武 .
中国专利 :CN215813200U ,2022-02-11
[8]
ADC芯片测试电路以及测试设备 [P]. 
李文标 ;
苗书立 ;
刘凯 .
中国专利 :CN217159676U ,2022-08-09
[9]
指纹芯片测试电路以及测试设备 [P]. 
刘吉平 ;
于杰 ;
王翔 ;
郑增忠 .
中国专利 :CN221446242U ,2024-07-30
[10]
芯片位置调节装置以及芯片测试设备 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 ;
彭磊 .
中国专利 :CN217303869U ,2022-08-26
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