芯片测试板、芯片测试装置和测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422483349.7

申请日：

2024-10-14

公开(公告)号：

CN223552255U

公开(公告)日：

2025-11-14

发明(设计)人：

王丽荣李华星胡晓辉

申请人：

深圳市时创意电子股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区新桥街道新发东路5号深圳市时创意电子有限公司

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240

代理人：

胡凯龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-14	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[2]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[3]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[4]

芯片测试夹具和芯片测试装置 [P].

张婵娟 ;

王国峰 .

中国专利 :CN117330930A ,2024-01-02

[5]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[6]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[7]

芯片的通用测试装置和芯片测试系统 [P].

张焱 ;

温江波 ;

陈建宇 ;

曹生斌 ;

曹志 ;

马程 ;

闫斌 ;

张海麟 .

中国专利 :CN119028418A ,2024-11-26

[8]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[9]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[10]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02

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