芯片测试装置和芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311631704.4

申请日：

2023-11-30

公开(公告)号：

CN117420421A

公开(公告)日：

2024-01-19

发明(设计)人：

徐永刚彭瑞童炜孙成思何瀚王灿

申请人：

成都态坦测试科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市高新区合顺路2号2号楼1单元12层1号、2号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 B08B5/02 B08B5/04

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231130
2024-01-19	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[2]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[3]

芯片的通用测试装置和芯片测试系统 [P].

张焱 ;

温江波 ;

陈建宇 ;

曹生斌 ;

曹志 ;

马程 ;

闫斌 ;

张海麟 .

中国专利 :CN119028418A ,2024-11-26

[4]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[5]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[6]

芯片测试装置与芯片测试系统 [P].

彭聪 ;

李康 .

中国专利 :CN113791333A ,2021-12-14

[7]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[8]

芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P].

王丽荣 ;

李华星 ;

胡晓辉 .

中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14

[9]

芯片测试装置、测试头以及芯片测试系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN216285573U ,2022-04-12

[10]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试装置的制备方法 [P].

李磊 ;

陶军磊 ;

武绍军 ;

赵南 ;

蒋尚轩 .

中国专利 :CN120142892A ,2025-06-13

← 1 2 3 4 5 →