芯片的通用测试装置和芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411027075.9

申请日：

2024-07-30

公开(公告)号：

CN119028418A

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

张焱温江波陈建宇曹生斌曹志马程闫斌张海麟

申请人：

上海贝岭股份有限公司

申请人地址：

200233 上海市徐汇区宜山路810号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

上海弼兴律师事务所 31283

代理人：

陈臻晔;林嵩

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	公开	公开
2024-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240730

共 50 条

[1]

芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117420421A ,2024-01-19

[2]

芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117517732A ,2024-02-06

[3]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[4]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[5]

芯片测试板、芯片测试装置和测试系统 [P].

王丽荣 ;

李华星 ;

胡晓辉 .

中国专利 :CN223552255U ,2025-11-14

[6]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[7]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试装置的制备方法 [P].

李磊 ;

陶军磊 ;

武绍军 ;

赵南 ;

蒋尚轩 .

中国专利 :CN120142892A ,2025-06-13

[8]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[9]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[10]

芯片测试装置与芯片测试系统 [P].

彭聪 ;

李康 .

中国专利 :CN113791333A ,2021-12-14

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