芯片测试架

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921746905.8
申请日
2019-10-17
公开(公告)号
CN211402438U
公开(公告)日
2020-09-01
发明(设计)人
田景均
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张小容
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[21]
一种闪存芯片测试架 [P]. 
向正友 ;
卢宏伟 .
中国专利 :CN205302958U ,2016-06-08
[22]
一种芯片测试针架 [P]. 
陆冀成 ;
陈明 .
中国专利 :CN220626483U ,2024-03-19
[23]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[24]
一种芯片测试治具 [P]. 
李刚 .
中国专利 :CN214041653U ,2021-08-24
[25]
芯片测试下盖组件及芯片测试装置 [P]. 
杨建设 ;
张雅凯 ;
彭磊 .
中国专利 :CN222979730U ,2025-06-13
[26]
自动芯片测试机测试座 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202748383U ,2013-02-20
[27]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
[28]
芯片测试治具 [P]. 
崔强 ;
许招辉 .
中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26
[29]
芯片测试治具 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
杨鹏亮 .
中国专利 :CN218298437U ,2023-01-13
[30]
芯片测试大托盘 [P]. 
金英杰 .
中国专利 :CN202502116U ,2012-10-24