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芯片测试架
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921746905.8
申请日
:
2019-10-17
公开(公告)号
:
CN211402438U
公开(公告)日
:
2020-09-01
发明(设计)人
:
田景均
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
:
张小容
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-01
授权
授权
共 50 条
[21]
一种闪存芯片测试架
[P].
向正友
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向正友
;
卢宏伟
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卢宏伟
.
中国专利
:CN205302958U
,2016-06-08
[22]
一种芯片测试针架
[P].
陆冀成
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机构:
深圳市佰誉科技有限公司
深圳市佰誉科技有限公司
陆冀成
;
陈明
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机构:
深圳市佰誉科技有限公司
深圳市佰誉科技有限公司
陈明
.
中国专利
:CN220626483U
,2024-03-19
[23]
一种芯片测试装置
[P].
李明
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李明
;
郭晓旭
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郭晓旭
;
樊晓华
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樊晓华
;
边海波
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边海波
.
中国专利
:CN217360170U
,2022-09-02
[24]
一种芯片测试治具
[P].
李刚
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李刚
.
中国专利
:CN214041653U
,2021-08-24
[25]
芯片测试下盖组件及芯片测试装置
[P].
杨建设
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昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
杨建设
;
张雅凯
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
张雅凯
;
彭磊
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机构:
昆山思特威集成电路有限公司
昆山思特威集成电路有限公司
彭磊
.
中国专利
:CN222979730U
,2025-06-13
[26]
自动芯片测试机测试座
[P].
金英杰
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金英杰
.
中国专利
:CN202748383U
,2013-02-20
[27]
芯片测试治具
[P].
杨建
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
杨建
;
刘志维
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
刘志维
;
汪迪
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
汪迪
;
张先俊
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
张先俊
.
中国专利
:CN220752138U
,2024-04-09
[28]
芯片测试治具
[P].
崔强
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崔强
;
许招辉
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许招辉
.
中国专利
:CN214895433U
,2021-11-26
[29]
芯片测试治具
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
杨鹏亮
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杨鹏亮
.
中国专利
:CN218298437U
,2023-01-13
[30]
芯片测试大托盘
[P].
金英杰
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金英杰
.
中国专利
:CN202502116U
,2012-10-24
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